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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第155位 297件
（
2013年：第144位 349件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第83位 448件
（2013年：第64位 612件）
（ランキング更新日：2025年5月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5640361 | 半導体装置の製造方法 | 2014年12月17日 | |
| 特許 5633297 | 受信回路、システム装置及び半導体記憶装置 | 2014年12月 3日 | |
| 特許 5633210 | 半導体装置 | 2014年12月 3日 | |
| 特許 5633588 | 半導体装置の製造方法 | 2014年12月 3日 | |
| 特許 5633303 | リコンフィグ可能なＬＳＩ | 2014年12月 3日 | |
| 特許 5633355 | データ転送装置、データ転送方法、及び半導体装置 | 2014年12月 3日 | |
| 特許 5633122 | プロセッサ及び情報処理システム | 2014年12月 3日 | |
| 特許 5629981 | 半導体集積回路及び半導体集積回路の故障診断方法 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5630335 | 半導体記憶装置 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5630185 | 半導体装置及びその製造方法 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5630294 | ＰＬＬ回路および半導体装置 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5629962 | 半導体記憶装置 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5630149 | 半導体装置の製造方法 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5625710 | シミュレーション装置、方法、及びプログラム | 2014年11月19日 | |
| 特許 5625942 | 設計検証プログラム，設計検証装置，設計検証方法 | 2014年11月19日 |
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5640361 5633297 5633210 5633588 5633303 5633355 5633122 5629981 5630335 5630185 5630294 5629962 5630149 5625710 5625942
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