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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第103位 453件
（
2011年：第93位 464件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第59位 620件
（2011年：第53位 577件）
（ランキング更新日：2025年5月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4992904 | 半導体装置の製造方法 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4992710 | ＭＯＳトランジスタ及びその製造方法 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4992463 | ウェハおよび解析方法 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4992266 | 半導体装置の製造方法 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4997891 | ＤＣ−ＤＣコンバータ及びＤＣ−ＤＣコンバータの制御方法 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4992489 | インターフェース装置及び接続検出方法 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4996890 | 半導体装置の製造方法 | 2012年 8月 8日 | 共同出願 |
| 特許 4988190 | 不揮発性半導体メモリ | 2012年 8月 1日 | |
| 特許 4985035 | 発振回路 | 2012年 7月25日 | |
| 特許 4983562 | シュミット回路 | 2012年 7月25日 | |
| 特許 4983429 | トランスコーダ、映像記憶装置および映像データ記憶・読出方法 | 2012年 7月25日 | |
| 特許 4983147 | 多重化装置、多重化方法および多重化プログラム | 2012年 7月25日 | |
| 特許 4983087 | 成膜方法、半導体装置の製造方法、コンピュータ可読記録媒体、スパッタ処理装置 | 2012年 7月25日 | |
| 特許 4984561 | 半導体基板欠陥検出方法 | 2012年 7月25日 | |
| 特許 4983688 | 半導体装置 | 2012年 7月25日 |
620 件中 301-315 件を表示
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4992904 4992710 4992463 4992266 4997891 4992489 4996890 4988190 4985035 4983562 4983429 4983147 4983087 4984561 4983688
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