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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第155位 297件
（
2013年：第144位 349件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第83位 448件
（2013年：第64位 612件）
（ランキング更新日：2025年2月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5458546 | 遅延クロック発生装置 | 2014年 4月 2日 | |
| 特許 5454349 | 性能推定装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5454260 | パターン密度検証方法及びプログラム | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5454618 | メモリ装置，メモリコントローラ及びメモリシステム | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5454605 | 配線基板及び半導体装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5454543 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5453850 | 半導体集積回路 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5454669 | 広帯域無線接続通信装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5453948 | データ受信処理方法及びデータ受信処理装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5444660 | 半導体装置の製造方法及び半導体製造装置 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5444596 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5446126 | 電解メッキ方法および半導体装置の製造方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5446510 | 半導体装置の製造方法及び半導体装置の管理方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5446358 | 半導体集積回路およびそのテスト方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5446112 | 半導体装置及び半導体装置の動作監視方法 | 2014年 3月19日 |
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5458546 5454349 5454260 5454618 5454605 5454543 5453850 5454669 5453948 5444660 5444596 5446126 5446510 5446358 5446112
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