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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第155位 297件
（
2013年：第144位 349件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第83位 448件
（2013年：第64位 612件）
（ランキング更新日：2025年5月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5447209 | スキャンチェーン形成方法、プログラム及び設計支援装置 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5446464 | 情報処理システム及びデータ転送方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5446384 | インターフェース回路、メモリシステム、およびアクセス制御方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5445346 | ＬＳＩの電源遮断領域拡張方法及びそのプログラム | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5444939 | ソフトウェアのテスト方法及びプログラム | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5447237 | 半導体装置及びその製造方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5447175 | 半導体装置 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5446615 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5446558 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5446509 | 検査システム及び検査方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5446120 | 半導体装置の製造方法及び半導体装置 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5446068 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5444917 | 抵抗値調整回路 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5440293 | レチクルレイアウト生成方法、プログラム及びレチクルレイアウト生成装置 | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5440419 | 情報処理システム | 2014年 3月12日 |
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5447209 5446464 5446384 5445346 5444939 5447237 5447175 5446615 5446558 5446509 5446120 5446068 5444917 5440293 5440419
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