ホーム > 特許ランキング > 富士通セミコンダクター株式会社 > 2014年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(富士通セミコンダクター株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第155位 297件
(2013年:第144位 349件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第83位 448件
(2013年:第64位 612件)
(ランキング更新日:2025年5月29日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5434517 | D/Aコンバータ | 2014年 3月 5日 | |
特許 5432621 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 3月 5日 | 共同出願 |
特許 5429335 | 半導体メモリおよびシステム | 2014年 2月26日 | |
特許 5429305 | 不揮発性半導体記憶装置及びその消去方法 | 2014年 2月26日 | |
特許 5426069 | 半導体装置およびその製造方法 | 2014年 2月26日 | |
特許 5428233 | フリップチップ・パッケージ、及び上記フリップチップ・パッケージを含むシステム | 2014年 2月26日 | |
特許 5428151 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 2月26日 | |
特許 5428123 | 半導体装置及びその製造方法 | 2014年 2月26日 | |
特許 5418418 | 化学的機械研磨方法 | 2014年 2月19日 | |
特許 5423029 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 2月19日 | |
特許 5423627 | 半導体装置の試験装置及び試験方法 | 2014年 2月19日 | |
特許 5418015 | 半導体解析装置及び半導体解析方法 | 2014年 2月19日 | |
特許 5417939 | 高周波信号出力試験方法および半導体装置 | 2014年 2月19日 | |
特許 5423172 | 半導体装置 | 2014年 2月19日 | |
特許 5420182 | キャッシュメモリシステム、データ処理装置および記憶装置 | 2014年 2月19日 |
448 件中 346-360 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5434517 5432621 5429335 5429305 5426069 5428233 5428151 5428123 5418418 5423029 5423627 5418015 5417939 5423172 5420182
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。富士通セミコンダクター株式会社の知財の動向チェックに便利です。
5月29日(木) - 東京 港区
5月29日(木) - 東京 品川区
5月29日(木) - 東京 新宿区
5月29日(木) -
5月29日(木) -
5月30日(金) -
5月30日(金) -
5月29日(木) - 東京 港区
6月4日(水) -
6月4日(水) -
6月4日(水) -
6月5日(木) -
6月6日(金) -
東京都港区新橋6-20-4 新橋パインビル5階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング
Floor 16, Tower A, InDo Building, A48 Zhichun Road, Haidian District, Beijing 100098, P.R. China 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
福岡市博多区博多駅前3丁目25番21号 博多駅前ビジネスセンター411号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング