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富士通セミコンダクター株式会社

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  2014年 出願公開件数ランキング    第155位 297件 下降2013年:第144位 349件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第83位 448件 下降2013年:第64位 612件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5381672 半導体装置の検査方法 2014年 1月 8日
特許 5381001 半導体集積回路及び半導体集積回路の試験方法 2014年 1月 8日
特許 5382163 半導体メモリ、半導体メモリの動作方法およびシステム 2014年 1月 8日
特許 5382103 基板検知方法 2014年 1月 8日
特許 5381989 半導体装置の製造方法 2014年 1月 8日
特許 5381688 半導体装置及びその製造方法 2014年 1月 8日
特許 5381463 アンテナとそれを有する通信装置 2014年 1月 8日
特許 5381382 半導体装置及びその製造方法 2014年 1月 8日
特許 5381350 半導体装置及びその製造方法 2014年 1月 8日
特許 5381053 半導体装置の製造方法 2014年 1月 8日
特許 5380944 強誘電体メモリとその製造方法 2014年 1月 8日
特許 5380901 半導体装置及びその製造方法 2014年 1月 8日
特許 5380794 半導体装置の製造方法および半導体層の形成方法 2014年 1月 8日

448 件中 436-448 件を表示

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5381672 5381001 5382163 5382103 5381989 5381688 5381463 5381382 5381350 5381053 5380944 5380901 5380794

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