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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第155位 297件
（
2013年：第144位 349件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第83位 448件
（2013年：第64位 612件）
（ランキング更新日：2025年5月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5381672 | 半導体装置の検査方法 | 2014年 1月 8日 | |
| 特許 5381001 | 半導体集積回路及び半導体集積回路の試験方法 | 2014年 1月 8日 | |
| 特許 5382163 | 半導体メモリ、半導体メモリの動作方法およびシステム | 2014年 1月 8日 | |
| 特許 5382103 | 基板検知方法 | 2014年 1月 8日 | |
| 特許 5381989 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 1月 8日 | |
| 特許 5381688 | 半導体装置及びその製造方法 | 2014年 1月 8日 | |
| 特許 5381463 | アンテナとそれを有する通信装置 | 2014年 1月 8日 | |
| 特許 5381382 | 半導体装置及びその製造方法 | 2014年 1月 8日 | |
| 特許 5381350 | 半導体装置及びその製造方法 | 2014年 1月 8日 | |
| 特許 5381053 | 半導体装置の製造方法 | 2014年 1月 8日 | |
| 特許 5380944 | 強誘電体メモリとその製造方法 | 2014年 1月 8日 | |
| 特許 5380901 | 半導体装置及びその製造方法 | 2014年 1月 8日 | |
| 特許 5380794 | 半導体装置の製造方法および半導体層の形成方法 | 2014年 1月 8日 |
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5381672 5381001 5382163 5382103 5381989 5381688 5381463 5381382 5381350 5381053 5380944 5380901 5380794
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