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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第103位 453件
（
2011年：第93位 464件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第59位 620件
（2011年：第53位 577件）
（ランキング更新日：2024年12月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4910439 | 半導体装置 | 2012年 4月 4日 | |
| 特許 4904769 | 半導体装置 | 2012年 3月28日 | |
| 特許 4903469 | 欠陥検出方法 | 2012年 3月28日 | |
| 特許 4905260 | Ａ／Ｄ変換装置 | 2012年 3月28日 | |
| 特許 4904744 | 歪曲補正方法、歪曲補正プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、および画像処理装置 | 2012年 3月28日 | |
| 特許 4904178 | ＣＦカードインターフェース回路 | 2012年 3月28日 | |
| 特許 4904780 | 不揮発性半導体記憶装置 | 2012年 3月28日 | |
| 特許 4904670 | 半導体装置 | 2012年 3月28日 | |
| 特許 4904619 | 半導体装置 | 2012年 3月28日 | |
| 特許 4904929 | ＯＦＤＭ受信機、妨害波判別方法、窓制御装置、及び窓制御方法 | 2012年 3月28日 | |
| 特許 4899927 | テストパターン自動生成方法およびテストパターン自動生成プログラム | 2012年 3月21日 | |
| 特許 4899560 | 欠陥検査装置及びその感度校正方法、欠陥検出感度校正用基板及びその製造方法 | 2012年 3月21日 | |
| 特許 4899556 | 半導体集積回路 | 2012年 3月21日 | |
| 特許 4900045 | フォトマスクの遮光帯作成方法及び遮光帯データ作成装置 | 2012年 3月21日 | |
| 特許 4900013 | 検証方法及び検証装置 | 2012年 3月21日 |
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4910439 4904769 4903469 4905260 4904744 4904178 4904780 4904670 4904619 4904929 4899927 4899560 4899556 4900045 4900013
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