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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第103位 453件
（
2011年：第93位 464件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第59位 620件
（2011年：第53位 577件）
（ランキング更新日：2024年12月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4882371 | フレア量の計測方法、フレア量計測用マスク及びデバイスの製造方法 | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4882902 | シミュレーション方法及びプログラム | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4882315 | 機能ユニット | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4883832 | 不揮発性半導体記憶装置 | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4883094 | レベルシフト回路、レベルシフト回路の駆動方法、及び、レベルシフト回路を有する半導体回路装置 | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4882893 | 半導体装置の製造方法 | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4882548 | 半導体装置及びその製造方法 | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4882455 | 半導体集積回路のユニットセルおよびユニットセルを使用した配線方法および配線プログラム | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4879771 | 静電チャック | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4882584 | 入出力回路 | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4878936 | 故障検出方法、試験回路及び半導体装置 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4874149 | マスクパターン補正方法および半導体装置の製造方法 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4876770 | 集積回路のレイアウト設計方法および集積回路のレイアウト設計プログラム | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4877959 | 電子線露光用データ作成方法、電子線露光方法、半導体装置の製造方法及び電子線露光装置 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4874289 | 半導体装置の製造方法およびＤＲＡＭの製造方法 | 2012年 2月15日 |
620 件中 541-555 件を表示
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4882371 4882902 4882315 4883832 4883094 4882893 4882548 4882455 4879771 4882584 4878936 4874149 4876770 4877959 4874289
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