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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第93位 464件
（
2010年：第158位 315件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第53位 577件
（2010年：第129位 243件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4829631 | 半導体装置の製造方法及び研磨装置 | 2011年12月 7日 | |
| 特許 4831899 | 半導体集積回路及びクロック制御方法 | 2011年12月 7日 | |
| 特許 4833527 | 絶縁ゲート型半導体装置及びその駆動方法 | 2011年12月 7日 | |
| 特許 4834051 | 半導体記憶装置及び半導体装置 | 2011年12月 7日 | |
| 特許 4833031 | 表面形状センサとその製造方法 | 2011年12月 7日 | |
| 特許 4825429 | 半導体装置 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4825538 | 半導体装置の製造方法 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4825559 | 半導体装置 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4824785 | コアサイズ見積もり方法、チップサイズ見積もり方法及び設計装置 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4824180 | 半導体記憶装置 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4827653 | 半導体装置とその製造方法 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4825905 | レイアウト設計装置、レイアウト設計プログラム、および記録媒体 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4824900 | 半導体記憶装置及びその制御方法 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4824451 | 欠陥検査システム及び欠陥検査補正方法 | 2011年11月30日 | |
| 特許 4827764 | 分数分周ＰＬＬ装置、およびその制御方法 | 2011年11月30日 |
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4829631 4831899 4833527 4834051 4833031 4825429 4825538 4825559 4824785 4824180 4827653 4825905 4824900 4824451 4827764
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