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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第93位 464件
（
2010年：第158位 315件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第53位 577件
（2010年：第129位 243件）
（ランキング更新日：2025年2月17日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4808109 | 半導体装置 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4806584 | 画像処理方法及び画像処理回路 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4804926 | 半導体集積回路 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4808053 | インターフェース回路およびその制御方法 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4806481 | ＬＣＤパネル駆動回路 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4808064 | 入出力装置およびその制御方法 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4808195 | オペアンプ、ラインドライバおよび液晶表示装置 | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4805094 | フォグ効果処理方法、グラフィックス装置、グラフィックス用半導体集積回路装置及びフォグ効果処理プログラム | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4806520 | 半導体記憶装置及びメモリシステム | 2011年11月 2日 | |
| 特許 4803078 | 半導体集積回路のレイアウト設計方法およびレイアウト設計用プログラム | 2011年10月26日 | |
| 特許 4800808 | 電子機器、システム電源、及び電圧供給方法 | 2011年10月26日 | |
| 特許 4802010 | 半導体集積回路および半導体集積回路の試験方法 | 2011年10月26日 | |
| 特許 4800596 | 欠陥解析システム、記録媒体、欠陥解析方法、及び工程管理方法 | 2011年10月26日 | |
| 特許 4800711 | 半導体装置の製造方法 | 2011年10月26日 | |
| 特許 4800733 | 出力回路 | 2011年10月26日 |
577 件中 121-135 件を表示
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4808109 4806584 4804926 4808053 4806481 4808064 4808195 4805094 4806520 4803078 4800808 4802010 4800596 4800711 4800733
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2月25日(火) -
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