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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第832位 36件 (2011年:第664位 50件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第730位 43件 (2011年:第842位 33件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2012-141715 | 配線経路作成プログラム及び配線経路作成方法 | 2012年 7月26日 | |
特開 2012-132891 | プローブ組立体 | 2012年 7月12日 | |
特開 2012-129413 | 配線形成装置 | 2012年 7月 5日 | |
特開 2012-127731 | 電気的接続装置及びその製造方法 | 2012年 7月 5日 | |
特開 2012-127719 | 電気的試験方法、その電気的試験に用いる電気的接続装置及び試験装置並びにその電気的接続装置に用いる測定治具 | 2012年 7月 5日 | |
特開 2012-112776 | チップ積層デバイス検査方法及びチップ積層デバイス再配列ユニット並びにチップ積層デバイス用検査装置 | 2012年 6月14日 | |
特開 2012-112904 | プローブカード並びに半導体検査装置及び半導体検査方法 | 2012年 6月14日 | |
特開 2012-103125 | プローブカード | 2012年 5月31日 | |
特開 2012-98198 | 電気的接続装置及びその調整方法 | 2012年 5月24日 | |
特開 2012-89680 | 半導体測定装置 | 2012年 5月10日 | |
特開 2012-83156 | プローブユニット及び検査装置 | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-73090 | 検査装置及び検査方法 | 2012年 4月12日 | |
特開 2012-63288 | 通電試験用プローブ及びプローブ組立体 | 2012年 3月29日 | |
特開 2012-47459 | 平板状被検査体の検査装置 | 2012年 3月 8日 | |
特開 2012-42330 | プローブカードの製造方法 | 2012年 3月 1日 |
36 件中 16-30 件を表示
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2012-141715 2012-132891 2012-129413 2012-127731 2012-127719 2012-112776 2012-112904 2012-103125 2012-98198 2012-89680 2012-83156 2012-73090 2012-63288 2012-47459 2012-42330
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1月31日(金) -
1月31日(金) -
2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
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