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株式会社日本マイクロニクス

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  2012年 出願公開件数ランキング    第832位 36件 下降2011年:第664位 50件)

  2012年 特許取得件数ランキング    第730位 43件 上昇2011年:第842位 33件)

(ランキング更新日:2025年1月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特開 2012-141715 配線経路作成プログラム及び配線経路作成方法 2012年 7月26日
特開 2012-132891 プローブ組立体 2012年 7月12日
特開 2012-129413 配線形成装置 2012年 7月 5日
特開 2012-127731 電気的接続装置及びその製造方法 2012年 7月 5日
特開 2012-127719 電気的試験方法、その電気的試験に用いる電気的接続装置及び試験装置並びにその電気的接続装置に用いる測定治具 2012年 7月 5日
特開 2012-112776 チップ積層デバイス検査方法及びチップ積層デバイス再配列ユニット並びにチップ積層デバイス用検査装置 2012年 6月14日
特開 2012-112904 プローブカード並びに半導体検査装置及び半導体検査方法 2012年 6月14日
特開 2012-103125 プローブカード 2012年 5月31日
特開 2012-98198 電気的接続装置及びその調整方法 2012年 5月24日
特開 2012-89680 半導体測定装置 2012年 5月10日
特開 2012-83156 プローブユニット及び検査装置 2012年 4月26日
特開 2012-73090 検査装置及び検査方法 2012年 4月12日
特開 2012-63288 通電試験用プローブ及びプローブ組立体 2012年 3月29日
特開 2012-47459 平板状被検査体の検査装置 2012年 3月 8日
特開 2012-42330 プローブカードの製造方法 2012年 3月 1日

36 件中 16-30 件を表示

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2012-141715 2012-132891 2012-129413 2012-127731 2012-127719 2012-112776 2012-112904 2012-103125 2012-98198 2012-89680 2012-83156 2012-73090 2012-63288 2012-47459 2012-42330

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