特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社日本マイクロニクス

※ ログインすれば出願人(株式会社日本マイクロニクス)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2012年出願公開件数ランキング　　　第832位　36件（2011年：第664位　50件）

　■　2012年特許取得件数ランキング　　　第730位　43件（2011年：第842位　33件）

（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

株式会社日本マイクロニクスの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2012-251811	電気的接続装置及びこれを用いる試験装置	2012年12月20日
特開 2012-237594	絶縁測定用プローブユニット及び絶縁測定装置	2012年12月 6日
特開 2012-233723	プローブ装置及びプローブユニット	2012年11月29日
特開 2012-229923	電気的接続装置	2012年11月22日
特開 2012-225877	接触子の製造方法、接触子、プローブシート及びプローブ組立体	2012年11月15日
特開 2012-218823	リペア装置のメンテナンス機構	2012年11月12日
特開 2012-215534	プローブ装置	2012年11月 8日
特開 2012-215590	電気的接続装置及びこの電気的接続装置に用いる接触子	2012年11月 8日
特開 2012-194000	カメラ解像度自動測定方法及び自動調節方法並びに画像検査方法及び装置	2012年10月11日
特開 2012-181096	接触子及び電気的接続装置	2012年 9月20日
特開 2012-177648	プローブ装置及び被検査体の清掃方法	2012年 9月13日
特開 2012-163529	接触子及び検査装置	2012年 8月30日
特開 2012-163410	プローブカードの配線基板調整治具及び配線基板修正方法並びに配線基板調整治具を用いて調整されたプローブカードを用いた検査方法及び検査システム	2012年 8月30日
特開 2012-163397	プローブ装置及びその製造方法	2012年 8月30日
特開 2012-154949	通電試験用プローブ組立体	2012年 8月16日

36 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2012-251811 2012-237594 2012-233723 2012-229923 2012-225877 2012-218823 2012-215534 2012-215590 2012-194000 2012-181096 2012-177648 2012-163529 2012-163410 2012-163397 2012-154949

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日本マイクロニクスの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数