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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第769位 39件 (2018年:第781位 36件)
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第1060位 18件 (2018年:第1206位 16件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2019-218318 | マイクロニードルシート | 2019年12月26日 | |
特開 2019-219273 | 画像生成装置および画像生成方法 | 2019年12月26日 | |
特開 2019-219341 | プローブ組立体 | 2019年12月26日 | |
特開 2019-219938 | 制御システム、制御方法、制御プログラム及び信号機 | 2019年12月26日 | |
特開 2019-211265 | 接続装置及びその製造方法 | 2019年12月12日 | |
特開 2019-211394 | プローブ組立体 | 2019年12月12日 | |
特開 2019-212140 | 発光装置 | 2019年12月12日 | |
特開 2019-212382 | 二次電池、積層電池、及び製造方法 | 2019年12月12日 | |
特開 2019-207907 | 二次電池、及びその製造方法 | 2019年12月 5日 | |
特開 2019-178925 | プローブ組立体及びプローブユニット | 2019年10月17日 | |
特開 2019-178999 | 電気的接触子及び電気的接続装置 | 2019年10月17日 | |
特開 2019-179000 | 電気的接触子及び電気的接続装置 | 2019年10月17日 | |
特開 2019-179875 | プローバ | 2019年10月17日 | |
特開 2019-165109 | 二次電池、及びその製造方法 | 2019年 9月26日 | |
特開 2019-160941 | 半導体デバイスの検査装置及び検査方法 | 2019年 9月19日 |
39 件中 1-15 件を表示
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2019-218318 2019-219273 2019-219341 2019-219938 2019-211265 2019-211394 2019-212140 2019-212382 2019-207907 2019-178925 2019-178999 2019-179000 2019-179875 2019-165109 2019-160941
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11月22日(金) -
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11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
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11月27日(水) -
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11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
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12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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