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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第742位 45件 (2012年:第832位 36件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2013-200256 | プローブ装置 | 2013年10月 3日 | |
特開 2013-191658 | 配線基板及びその製造方法 | 2013年 9月26日 | |
特開 2013-186002 | 電気的接触子 | 2013年 9月19日 | |
特開 2013-174523 | プローブの製造方法 | 2013年 9月 5日 | |
特開 2013-171005 | 非接触型プローブカード | 2013年 9月 2日 | |
特開 2013-167461 | 電気的接続装置及びその組立方法 | 2013年 8月29日 | |
特開 2013-167636 | センサ基板及び検査装置 | 2013年 8月29日 | |
特開 2013-148511 | 検査装置 | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-145210 | 基板積層式プローブカード | 2013年 7月25日 | |
特開 2013-137241 | プローブカードの平行確認方法及び平行確認装置並びにプローブカード及びテストヘッド | 2013年 7月11日 | |
特開 2013-130400 | プローブ組立体及びこれを含むプローブカード並びにこれらの製造方法 | 2013年 7月 4日 | |
特開 2013-130459 | 板状部材の位置決め方法及び電気的接続装置の製造方法 | 2013年 7月 4日 | |
特開 2013-127408 | プローブ構造体ユニットの配線及び製造方法 | 2013年 6月27日 | |
特開 2013-118320 | 半導体デバイスの検査装置とそれに用いるチャックステージ | 2013年 6月13日 | |
特開 2013-117476 | 電力用半導体デバイス検査用プローブ集合体とそれを用いる検査装置 | 2013年 6月13日 |
45 件中 16-30 件を表示
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2013-200256 2013-191658 2013-186002 2013-174523 2013-171005 2013-167461 2013-167636 2013-148511 2013-145210 2013-137241 2013-130400 2013-130459 2013-127408 2013-118320 2013-117476
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11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
12月2日(月) - 滋賀 草津市
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12月4日(水) - 東京 千代田区
12月4日(水) - 東京 港区
12月4日(水) -
12月4日(水) - 大阪 大阪市
12月5日(木) - 東京 港区
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12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
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