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株式会社日本マイクロニクス
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第742位 45件
（
2012年：第832位 36件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第591位 57件
（2012年：第730位 43件）
（ランキング更新日：2025年4月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日本マイクロニクスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5379586 | 電池短絡部除去装置及び方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5372706 | プローブ針ガイド部材及びこれを備えたプローブカード並びにそれを用いる半導体装置の試験方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5371099 | 目視検査装置と目視検査方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5363943 | 導電性シート及び導電性シートの製造方法並びにプローブカード及び検査装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5364240 | プローブユニット及び検査装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5367484 | 検査システム | 2013年12月11日 | |
| 特許 5342418 | 電気的試験用プローブ及びこれを用いた電気的接続装置 | 2013年11月13日 | |
| 特許 5335614 | 欠陥画素アドレス検出方法並びに検出装置 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5337341 | 電気的接続装置およびその組み立て方法 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5328958 | 通電試験用プローブ組立体 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5322822 | 半導体検査用ウエハプローバ及び検査方法 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5312227 | プローブカード及び検査装置 | 2013年10月 9日 | |
| 特許 5308845 | 金属微粒子の噴射ノズル | 2013年10月 9日 | |
| 特許 5308958 | 表示パネルのためのワークテーブル及び試験装置 | 2013年10月 9日 | |
| 特許 5300431 | 被検査基板のアライメント装置 | 2013年 9月25日 |
57 件中 1-15 件を表示
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5379586 5372706 5371099 5363943 5364240 5367484 5342418 5335614 5337341 5328958 5322822 5312227 5308845 5308958 5300431
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