特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社日本マイクロニクス

※ ログインすれば出願人(株式会社日本マイクロニクス)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2011年出願公開件数ランキング　　　第664位　50件（2010年：第614位　62件）

　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第842位　33件（2010年：第664位　38件）

（ランキング更新日：2025年2月7日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

株式会社日本マイクロニクスの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2011-89891	電気的接続装置及びこれを用いる試験装置	2011年 5月 6日
再表 2009-75041	電気的接続装置及びこの電気的接続装置に用いる接触子	2011年 4月28日
特開 2011-85574	平板状被検査体の試験装置	2011年 4月28日
再表 2009-69210	霧化装置、霧化方法、配線形成装置及び配線形成方法	2011年 4月 7日
特開 2011-54482	電池短絡部除去装置及び方法、並びに、電池短絡部除去電圧決定装置及び方法	2011年 3月17日
特開 2011-53203	プローブユニット及びこれを用いる試験装置	2011年 3月17日
特開 2011-47999	欠陥画素アドレス検出方法並びに検出装置	2011年 3月10日
特開 2011-39244	表示パネルのためのワークテーブル及び試験装置	2011年 2月24日
特開 2011-33570	光学レンズの歪曲収差の評価方法	2011年 2月17日
特開 2011-29271	薄膜特性測定装置及び方法、並びに、薄膜加工装置及び方法	2011年 2月10日
特開 2011-27579	プローブ装置	2011年 2月10日
特開 2011-27580	プローブ装置	2011年 2月10日
特開 2011-27995	検査装置	2011年 2月10日
特開 2011-29456	半導体検査用ウエハプローバ及び検査方法	2011年 2月10日
特開 2011-23552	電池短絡部除去装置及び方法	2011年 2月 3日

50 件中 31-45 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2011-89891 2009-75041 2011-85574 2009-69210 2011-54482 2011-53203 2011-47999 2011-39244 2011-33570 2011-29271 2011-27579 2011-27580 2011-27995 2011-29456 2011-23552

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日本マイクロニクスの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数