富士通株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第13位 2979件
（
2010年：第10位 3808件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第11位 2863件
（
2010年：第13位 2098件）
（ランキング更新日：2025年2月20日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4847303 | 障害物検出方法、障害物検出プログラムおよび障害物検出装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4847310 | 演算装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4847531 | 画像処理装置、画像処理プログラム、および画像処理方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4847591 | 画像処理装置、画像処理方法および画像処理プログラム | 2011年12月28日 | |
| 特許 4847930 | 無線端末装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4848221 | 帳票処理プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、帳票処理装置、および帳票処理方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4848298 | 集積回路の製造方法、クロックゲーティング回路挿入プログラムおよび設計支援装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4848945 | 特許評価支援プロブラム及び装置及び方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845488 | 生産計画プログラム | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845868 | 差動カレントミラー回路 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4846786 | 液晶表示素子及びそれを備えた電子ペーパー並びに画像処理方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4844243 | 絶縁材料の金属腐蝕性試験方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845594 | 電気化学セル及び電位印加方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4847104 | 光モジュールテスト方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4846407 | ウィスカ評価方法及びウィスカ評価装置 | 2011年12月28日 |
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4847303 4847310 4847531 4847591 4847930 4848221 4848298 4848945 4845488 4845868 4846786 4844243 4845594 4847104 4846407
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