※ ログインすれば出願人(アークレイ株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第557位 64件 (2010年:第600位 64件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第408位 81件 (2010年:第653位 39件)
(ランキング更新日:2024年11月14日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
再表 2009-69720 | 穿刺装置 | 2011年 4月14日 | |
特開 2011-69672 | 測定システムおよび測定方法 | 2011年 4月 7日 | |
再表 2009-66731 | 測定試薬、それを用いた免疫比濁法および検体分析用具 | 2011年 4月 7日 | |
特開 2011-62143 | ピロリ菌の23SrRNA遺伝子増幅用プライマー試薬およびその用途 | 2011年 3月31日 | |
再表 2009-63999 | 穿刺装置 | 2011年 3月31日 | |
再表 2009-60804 | 慢性骨髄増殖性疾患に関連する変異型核酸および慢性骨髄増殖性疾患の評価方法 | 2011年 3月24日 | 共同出願 |
特開 2011-59051 | 採取キット及び容器 | 2011年 3月24日 | |
特開 2011-59053 | 採取用具及び採取方法 | 2011年 3月24日 | |
特開 2011-59052 | 採取用具及び採取方法 | 2011年 3月24日 | |
再表 2009-57794 | コントロール液の判別方法および分析装置 | 2011年 3月17日 | |
再表 2009-57793 | 分析用具、分析装置、試料不足の検知方法および試料分析方法 | 2011年 3月17日 | |
再表 2009-57791 | 分析用具およびその製造方法 | 2011年 3月10日 | |
再表 2009-54516 | 試料検知装置およびこれを備えた測定装置 | 2011年 3月10日 | |
再表 2009-57659 | 試料の分析方法およびその装置 | 2011年 3月10日 | |
再表 2009-57792 | 分析用具 | 2011年 3月10日 |
64 件中 46-60 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2009-69720 2011-69672 2009-66731 2011-62143 2009-63999 2009-60804 2011-59051 2011-59053 2011-59052 2009-57794 2009-57793 2009-57791 2009-54516 2009-57659 2009-57792
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。アークレイ株式会社の知財の動向チェックに便利です。
11月14日(木) - 東京 港区
11月14日(木) - 愛知 名古屋市
11月14日(木) - 東京 中央区
11月15日(金) - 東京 港区
11月15日(金) -
11月15日(金) - 東京 港区
11月15日(金) -
11月15日(金) -
11月16日(土) - 東京 中央区
11月14日(木) - 東京 港区
11月18日(月) -
11月19日(火) -
11月19日(火) - 東京 港区
11月19日(火) - 大阪 大阪市
11月19日(火) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月21日(木) - 東京 港区
11月21日(木) - 愛知 名古屋市
11月21日(木) -
11月21日(木) -
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月18日(月) -
東京都新宿区新宿5-10-1 第2スカイビル6階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都江東区亀戸一丁目8番8号大樹生命亀戸ビル6階 6TH FLOOR, TAIJU SEIMEI KAMEIDO BLDG., 8-8, KAMEIDO 1-CHOME, KOTO-KU, TOKYO 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定