総区分数 | 2区分 | 1商標あたりの平均区分数 | 1区分 |
---|---|---|---|
類似群コード最頻出 | 10C01 (出現率100%) | 区分組み合わせ最頻出 | - |
指定商品・指定役務 | 総数 | 4 | 1商標あたりの平均数 | 2 |
---|
称呼パターン | 先頭2音 組み合わせ |
1位アギ (出現率50%)
1位アジ (出現率50%) 1位エク (出現率50%) 1位ザイ (出現率50%) 1位ベガ (出現率50%) |
- |
---|---|---|---|
先頭末尾音 組み合せ |
1位アル (出現率50%)
1位エス (出現率50%) 1位ザス (出現率50%) 1位ザル (出現率50%) 1位ベイ (出現率50%) 他 |
- |
登録番号 | 5631605 |
---|---|
標準文字 | |
商標タイプ | 標準文字商標 |
称呼 | ベガデイビイ ベガ |
区分 指定商品 指定役務 |
第9類
半導体デバイスの諸特性の測定分析自動調節機械器具
半導体検査装置 その他の測定機械器具 |
類似群コード |
第9類 10C01 |
権利者 |
識別番号000151494 株式会社東京精密 株式会社東京精密 |
出願日 | 2013年7月19日 |
登録日 | 2013年11月22日 |
代理人 | 茅原 裕二 |