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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第76位 653件 (2016年:第109位 389件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第71位 403件 (2016年:第81位 373件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6194733 | 基板移載システム | 2017年 9月13日 | |
特許 6194768 | 成膜装置 | 2017年 9月13日 | |
特許 6194850 | 薄膜形成装置 | 2017年 9月13日 | |
特許 6194858 | イオン化室 | 2017年 9月13日 | |
特許 6194863 | 走査型プローブ顕微鏡 | 2017年 9月13日 | |
特許 6191345 | ガス濃度測定装置 | 2017年 9月 6日 | |
特許 6191350 | X線撮影装置 | 2017年 9月 6日 | |
特許 6191408 | 蛍光X線分析装置 | 2017年 9月 6日 | |
特許 6191426 | 粒度分布測定装置及びこれに用いられる表示処理装置並びに粒度分布測定方法 | 2017年 9月 6日 | |
特許 6191477 | 粒子径測定装置及び粒子径測定方法 | 2017年 9月 6日 | |
特許 6191486 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2017年 9月 6日 | |
特許 6191538 | 振動試験装置 | 2017年 9月 6日 | |
特許 6191687 | 試料冷却装置及びこれを備えたオートサンプラ | 2017年 9月 6日 | |
特許 6191766 | 高周波電圧生成装置 | 2017年 9月 6日 | |
特許 6191772 | クロマトグラフ質量分析装置及びプログラム | 2017年 9月 6日 |
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6194733 6194768 6194850 6194858 6194863 6191345 6191350 6191408 6191426 6191477 6191486 6191538 6191687 6191766 6191772
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11月27日(水) -
11月27日(水) -
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11月28日(木) -
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12月1日(日) -
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