株式会社島津製作所
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第89位 469件
（
2017年：第76位 653件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第90位 343件
（2017年：第71位 403件）
（ランキング更新日：2025年10月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社島津製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6332545 | ノイズレベル推定方法、測定データ処理装置、及び測定データ処理用プログラム | 2018年 5月30日 | |
| 特許 6332550 | 超臨界流体装置 | 2018年 5月30日 | |
| 特許 6326758 | Ｘ線発生装置 | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6327041 | 分光測定装置 | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6327189 | プロセス処理装置 | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6327365 | 放射線撮影装置 | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6327367 | 基板移載システム | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6327728 | 粒子荷電装置及び該装置を用いた粒子分級装置 | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6327780 | Ｘ線透視撮影装置 | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6323178 | 粒度分布測定方法、並びに、粒度分布測定装置及びその制御プログラム | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6323260 | 高周波電源装置 | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6323321 | 真空装置及びこれを備えた質量分析装置 | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6323362 | イオン化装置 | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6323550 | 磁性体粒子の操作方法 | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6323571 | 質量分析計 | 2018年 5月16日 |
347 件中 196-210 件を表示
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6332545 6332550 6326758 6327041 6327189 6327365 6327367 6327728 6327780 6323178 6323260 6323321 6323362 6323550 6323571
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