ホーム > 特許ランキング > ヘムロック・セミコンダクター・コーポレーション > 2013年 > 出願公開一覧
ヘムロック・セミコンダクター・コーポレーション
※ ログインすれば出願人(ヘムロック・セミコンダクター・コーポレーション)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2013年 出願公開件数ランキング 第4525位 4件
（
2012年：第4129位 4件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第3906位 4件
（
2012年：第25637位 0件）
（ランキング更新日：2025年5月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
ヘムロック・セミコンダクター・コーポレーションの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特表 2013-528808 | 縁部方向のフォトルミネセンスを使用して半導体材料の妨害不純物を測定する方法 | 2013年 7月11日 | |
| 特表 2013-507523 | 材料を蒸着するための製造装置および当該製造装置で使用される電極 | 2013年 3月 4日 | |
| 特表 2013-507524 | ＣＶＤ装置 | 2013年 3月 4日 | |
| 特表 2013-507522 | 電極を有するＣＶＤ装置 | 2013年 3月 4日 |
4 件中 1-4 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2013-528808 2013-507523 2013-507524 2013-507522
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ヘムロック・セミコンダクター・コーポレーションの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
東京都新宿区西新宿8-1-9 シンコービル 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒564-0051 大阪府吹田市豊津町1番18号 エクラート江坂ビル４Ｆ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標
〒453-0012 愛知県名古屋市中村区井深町１番１号 新名古屋センタービル・本陣街２階 ２４３－１号室 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
