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ヘムロック・セミコンダクター・コーポレーション
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第2656位 7件
（
2016年：第7176位 2件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第24017位 0件
（
2016年：第2982位 5件）
（ランキング更新日：2026年10月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ヘムロック・セミコンダクター・コーポレーションの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特表 2017-537043 | ポリシリコンチップ回収アセンブリ、及びポリシリコン洗浄装置からポリシリコンチップを回収する方法 | 2017年12月14日 | |
| 特開 2017-181479 | 製品を汚染するシリコンエッチング剤によって溶解されない材料の濃度を判定する方法 | 2017年10月 5日 | |
| 特開 2017-175098 | 多結晶シリコンの表面及び表面下内部の金属を特性評価するための低量不純物検出方法 | 2017年 9月28日 | |
| 特開 2017-149582 | 搬送素材又は接触表面の表面コンディショニング | 2017年 8月31日 | |
| 特表 2017-512298 | シリコン製品を汚染する金属不純物の濃度を判定するための方法 | 2017年 5月18日 | |
| 特開 2017-43844 | 多結晶シリコン成長を改善するためのジクロロシラン補償制御方法 | 2017年 3月 2日 | |
| 特開 2017-11267 | リアクタのためのサセプタ配置、及びリアクタのためのプロセスガスを加熱する方法 | 2017年 1月12日 |
7 件中 1-7 件を表示
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2017-537043 2017-181479 2017-175098 2017-149582 2017-512298 2017-43844 2017-11267
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