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株式会社ＩＨＩ検査計測

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株式会社ＩＨＩ検査計測の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特開 2011-232135	Ｌモードガイド波センサとその使用方法	2011年11月17日
特開 2011-232133	液層の凝固を利用したガイド波による検査方法	2011年11月17日
特開 2011-232226	Ｘ線発生装置及びＸ線検査装置	2011年11月17日
特開 2011-218369	スポット溶接用トーチ	2011年11月 4日
特開 2011-220714	スポット溶接用監視装置及び接合部評価方法	2011年11月 4日
特開 2011-196937	油種判定装置と方法	2011年10月 6日	共同出願
特開 2011-180010	非破壊検査装置	2011年 9月15日	共同出願
特開 2011-180011	金属薄板の非破壊検査方法及びその非破壊検査装置	2011年 9月15日	共同出願
特開 2011-158387	超音波検査方法及びその装置	2011年 8月18日
特開 2011-149792	ガイド波を用いた検査方法	2011年 8月 4日
特開 2011-149865	ガイド波を用いた検査方法	2011年 8月 4日
特開 2011-141236	減衰材の肉厚算出方法及びその装置	2011年 7月21日
再表 2009-119501	炉内観察方法及び装置	2011年 7月21日	共同出願
特開 2011-128104	部品検査方法	2011年 6月30日
特開 2011-128068	寸法測定装置	2011年 6月30日

23 件中 1-15 件を表示

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2011-232135 2011-232133 2011-232226 2011-218369 2011-220714 2011-196937 2011-180010 2011-180011 2011-158387 2011-149792 2011-149865 2011-141236 2009-119501 2011-128104 2011-128068

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