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株式会社ＩＨＩ検査計測
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第5492位 3件
（
2023年：第2865位 7件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第3695位 4件
（2023年：第3124位 5件）
（ランキング更新日：2025年3月28日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社ＩＨＩ検査計測の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
特開 2024-166686
|
斜角電磁超音波探触子とこれを用いたき裂探傷装置と方法 | 2024年11月29日 | |
| 特開 2024-112226
|
Ｘ線検査システム | 2024年 8月20日 | |
| 特開 2024-112227
|
Ｘ線検査装置 | 2024年 8月20日 | |
| 特開 2024-78349
|
表面処理装置 | 2024年 6月10日 | |
| 特開 2024-70533
|
Ｘ線検査装置 | 2024年 5月23日 | |
| 特開 2024-58024
|
ＦＢＧセンサ固定治具及びＦＢＧセンサ固定方法 | 2024年 4月25日 |
6 件中 1-6 件を表示
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2024-166686 2024-112226 2024-112227 2024-78349 2024-70533 2024-58024
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