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ラピスセミコンダクタ株式会社
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第475位 70件
（
2014年：第374位 99件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第239位 124件
（
2014年：第271位 148件）
（ランキング更新日：2025年6月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ラピスセミコンダクタ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5697971 | 半導体装置製造工程におけるチャージアップ検出方法 | 2015年 4月 8日 | |
| 特許 5698004 | 半導体回路、電池監視システム、診断プログラム、及び診断方法 | 2015年 4月 8日 | |
| 特許 5694696 | 周波数シンセサイザ装置及び変調周波数変位調整方法 | 2015年 4月 1日 | |
| 特許 5695177 | ドライバＩＣ | 2015年 4月 1日 | |
| 特許 5685065 | 表示装置、中間階調処理回路及び中間階調処理方法 | 2015年 3月18日 | |
| 特許 5685420 | チップ部品包装装置、チップ部品の包装方法及びカバーテープ | 2015年 3月18日 | |
| 特許 5683259 | 基板処理装置及び基板処理方法 | 2015年 3月11日 | |
| 特許 5684450 | 半導体装置及びその製造方法 | 2015年 3月11日 | |
| 特許 5684535 | 半導体回路、半導体装置、故障診断方法、及び故障診断プログラム | 2015年 3月11日 | |
| 特許 5679767 | 指紋認証装置及び指紋認証用プログラム | 2015年 3月 4日 | |
| 特許 5679801 | 不揮発性記憶装置 | 2015年 3月 4日 | |
| 特許 5674304 | ＳＯＩウェハの製造方法 | 2015年 2月25日 | |
| 特許 5674380 | 半導体装置及びその製造方法 | 2015年 2月25日 | |
| 特許 5674433 | 半導体素子の製造方法 | 2015年 2月25日 | |
| 特許 5669903 | 半導体不揮発性メモリ、半導体不揮発性メモリの電荷蓄積方法、及び電荷蓄積プログラム | 2015年 2月18日 |
125 件中 91-105 件を表示
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5697971 5698004 5694696 5695177 5685065 5685420 5683259 5684450 5684535 5679767 5679801 5674304 5674380 5674433 5669903
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