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ラピスセミコンダクタ株式会社
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第355位 107件
（
2017年：第387位 111件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第364位 76件
（2017年：第366位 75件）
（ランキング更新日：2025年6月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ラピスセミコンダクタ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6352733 | 電源回路及びその制御方法 | 2018年 7月 4日 | |
| 特許 6348009 | 半導体装置 | 2018年 6月27日 | |
| 特許 6348925 | 半導体装置及び電池監視システム | 2018年 6月27日 | |
| 特許 6346227 | 半導体装置及び計測機器 | 2018年 6月20日 | |
| 特許 6342695 | 半導体装置、表示システム、検出方法、及び検出プログラム | 2018年 6月13日 | |
| 特許 6342728 | 半導体装置の製造方法および半導体装置 | 2018年 6月13日 | |
| 特許 6342786 | 半導体装置、データ通信システムおよびデータ書き込み制御方法 | 2018年 6月13日 | |
| 特許 6343052 | 半導体装置 | 2018年 6月13日 | |
| 特許 6328741 | 半導体装置 | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6328899 | 抵抗アレイ回路、電流生成回路、電流制御型発振回路、ＦＬＬ回路および抵抗アレイのテスト方法 | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6326209 | 半導体装置及び半導体メモリにおける消去回数の検索方法 | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6312492 | 半導体装置及び電流源制御方法 | 2018年 4月18日 | |
| 特許 6313150 | 半導体装置、電池監視システムおよび電池監視方法 | 2018年 4月18日 | |
| 特許 6309243 | 半導体装置およびその製造方法 | 2018年 4月11日 | |
| 特許 6305375 | 半導体装置および半導体装置の製造方法 | 2018年 4月 4日 |
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6352733 6348009 6348925 6346227 6342695 6342728 6342786 6343052 6328741 6328899 6326209 6312492 6313150 6309243 6305375
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