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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第330位 131件
(2016年:第394位 91件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第453位 58件
(2016年:第343位 87件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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再表 2014-125800 | 赤外線センサ及びその製造方法 | 2017年 2月 2日 | |
再表 2014-125808 | 静止判定装置、姿勢角検出装置、携帯機器、静止判定方法およびプログラム | 2017年 2月 2日 | |
再表 2014-125809 | 姿勢算出装置、姿勢算出方法、携帯機器およびプログラム | 2017年 2月 2日 | |
再表 2014-132616 | 半導体装置及びその製造方法 | 2017年 2月 2日 | |
特開 2017-26317 | センサ装置および電流センサ | 2017年 2月 2日 | |
特開 2017-26324 | ガス濃度測定装置 | 2017年 2月 2日 | |
特開 2017-26547 | 受発光装置及び濃度測定装置 | 2017年 2月 2日 | |
特開 2017-26582 | ガス濃度測定装置 | 2017年 2月 2日 | |
特開 2017-20901 | ガスセンサ | 2017年 1月26日 | |
特開 2017-21409 | 検査装置、検査方法、駆動システム、および検査プログラム | 2017年 1月26日 | |
特開 2017-15402 | 検出装置および電流センサ | 2017年 1月19日 | |
特開 2017-15507 | 赤外線センサ素子及びその製造方法 | 2017年 1月19日 | |
特開 2017-15508 | ガス濃度測定装置 | 2017年 1月19日 | |
特開 2017-15516 | ガスセンサ | 2017年 1月19日 | |
特開 2017-15567 | 受発光装置 | 2017年 1月19日 |
131 件中 106-120 件を表示
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2014-125800 2014-125808 2014-125809 2014-132616 2017-26317 2017-26324 2017-26547 2017-26582 2017-20901 2017-21409 2017-15402 2017-15507 2017-15508 2017-15516 2017-15567
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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