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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第92位 456件
(2017年:第145位 368件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第116位 260件
(2017年:第139位 238件)
(ランキング更新日:2021年2月25日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2018-165763 | グラフ表示装置、グラフ表示方法、基板処理システム、基板処理方法、およびグラフ表示プログラム | 2018年10月25日 | |
特開 2018-166027 | 担持量測定装置および担持量測定方法 | 2018年10月25日 | |
特開 2018-166035 | マイクロ波加熱装置および画像記録装置 | 2018年10月25日 | |
特開 2018-166157 | 基板処理装置および基板処理方法 | 2018年10月25日 | |
特開 2018-166183 | 基板処理装置、基板処理方法および紫外線照射手段の選択方法 | 2018年10月25日 | |
特開 2018-161081 | 細胞観察装置および細胞観察方法 | 2018年10月18日 | |
特開 2018-162143 | 基材処理装置および基材処理方法 | 2018年10月18日 | |
特開 2018-162161 | 基材処理装置および検出方法 | 2018年10月18日 | |
特開 2018-163010 | 測定方法、及び測定装置 | 2018年10月18日 | |
特開 2018-163202 | 描画装置および描画方法 | 2018年10月18日 | |
特開 2018-163248 | 画像取得方法および画像取得装置 | 2018年10月18日 | |
特開 2018-163249 | 領域判定方法 | 2018年10月18日 | |
特開 2018-163261 | 画像取得装置、露光装置、及び画像取得方法 | 2018年10月18日 | |
特開 2018-163527 | 分類装置の製造方法、画像の分類方法、画像の分類装置、半導体の検査装置および分類基準モジュール | 2018年10月18日 | |
特開 2018-163898 | 基板処理装置 | 2018年10月18日 |
460 件中 61-75 件を表示
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2018-165763 2018-166027 2018-166035 2018-166157 2018-166183 2018-161081 2018-162143 2018-162161 2018-163010 2018-163202 2018-163248 2018-163249 2018-163261 2018-163527 2018-163898
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