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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第778位 37件
（
2015年：第256位 154件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第419位 69件
（2015年：第157位 199件）
（ランキング更新日：2026年10月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5994466 | 半導体装置とその製造方法 | 2016年 9月21日 | |
| 特許 5994432 | マスクパターンの形成方法 | 2016年 9月21日 | |
| 特許 5990894 | 半導体モジュール、半導体モジュールの製造方法及びカード | 2016年 9月14日 | |
| 特許 5987486 | 半導体装置の製造方法 | 2016年 9月 7日 | |
| 特許 5983122 | 半導体装置 | 2016年 8月31日 | |
| 特許 5978781 | 半導体装置の製造方法 | 2016年 8月24日 | |
| 特許 5978732 | レチクル、露光方法、半導体装置の製造方法 | 2016年 8月24日 | |
| 特許 5974494 | 半導体記憶装置の内部電圧生成回路 | 2016年 8月23日 | |
| 特許 5972185 | 反射型マスクの検査装置、露光装置、反射型マスクを検査する方法及び露光方法 | 2016年 8月17日 | |
| 特許 5958212 | パターンマッチング方法、マスクパターンの生成方法、及び、ライブラリの構築方法 | 2016年 7月27日 | |
| 特許 5953803 | アクティブ信号生成回路及び半導体記憶装置 | 2016年 7月20日 | |
| 特許 5953974 | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 | 2016年 7月20日 | |
| 特許 5953988 | 半導体装置の製造方法 | 2016年 7月20日 | |
| 特許 5949192 | 半導体装置の製造方法及び半導体装置の欠陥試験装置 | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5942442 | 検証方法、検証プログラムおよび検証装置 | 2016年 6月29日 |
70 件中 16-30 件を表示
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5994466 5994432 5990894 5987486 5983122 5978781 5978732 5974494 5972185 5958212 5953803 5953974 5953988 5949192 5942442
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