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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第801位 37件
（
2015年：第270位 154件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第419位 69件
（2015年：第157位 199件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5857714 | パターン測定方法及び半導体装置の製造方法 | 2016年 2月10日 | |
| 特許 5853513 | マスクパターン補正装置、マスクパターン補正方法及びマスクパターン補正プログラム | 2016年 2月 9日 | |
| 特許 5853532 | マスクパターン補正装置、マスクパターン補正方法及びマスクパターン補正プログラム | 2016年 2月 9日 | |
| 特許 5853853 | 半導体記憶装置及びその駆動方法 | 2016年 2月 9日 | |
| 特許 5854104 | 半導体装置 | 2016年 2月 9日 | |
| 特許 5849478 | 半導体装置および試験方法 | 2016年 1月27日 | |
| 特許 5845781 | 半導体装置の製造方法 | 2016年 1月20日 | |
| 特許 5845866 | 半導体装置の製造方法 | 2016年 1月20日 | |
| 特許 5842578 | 半導体装置の製造方法 | 2016年 1月13日 | |
| 特許 5838833 | 半導体装置の製造方法 | 2016年 1月 6日 |
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5857714 5853513 5853532 5853853 5854104 5849478 5845781 5845866 5842578 5838833
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