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パルステック工業株式会社
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第2477位 9件
（
2016年：第2477位 8件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第1518位 12件
（
2016年：第1218位 17件）
（ランキング更新日：2025年12月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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パルステック工業株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6246965 | Ｘ線回折測定装置を用いた軸力評価方法 | 2017年12月13日 | |
| 特許 6221199 | Ｘ線回折測定装置 | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6212835 | Ｘ線回折測定装置およびＸ線回折像の回折像幅測定方法 | 2017年10月18日 | |
| 特許 6198088 | 回折環撮像装置、回折環読取装置及びＸ線回折測定方法 | 2017年 9月20日 | |
| 特許 6195140 | Ｘ線回折測定装置 | 2017年 9月13日 | |
| 特許 6155538 | Ｘ線回折測定装置及びＸ線回折測定方法 | 2017年 7月 5日 | |
| 特許 6132126 | 透光性物体検査装置および透光性物体検査方法 | 2017年 5月24日 | |
| 特許 6128333 | Ｘ線回折測定方法 | 2017年 5月17日 | |
| 特許 6115597 | Ｘ線回折測定装置 | 2017年 4月19日 | |
| 特許 6060472 | ３次元形状測定装置 | 2017年 1月18日 | |
| 特許 6060473 | Ｘ線回折測定装置 | 2017年 1月18日 | |
| 特許 6060474 | Ｘ線回折測定装置 | 2017年 1月18日 | |
| 特許 6055970 | Ｘ線回折装置を用いた表面硬さ評価方法およびＸ線回折測定装置 | 2017年 1月11日 |
13 件中 1-13 件を表示
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6246965 6221199 6212835 6198088 6195140 6155538 6132126 6128333 6115597 6060472 6060473 6060474 6055970
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