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インテル・コーポレーション

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インテル・コーポレーションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2025-187987	先進的な集積回路構造の製造のための、拡幅された低容量の絶縁キャップ層を備えたコンタクトオーバーアクティブゲート構造	2025年12月25日
特開 2025-176029	メタデータにエラー検出訂正（ＥＣＣ）ビットを割り当てるためのＥＣＣビットの分散	2025年12月 3日
特開 2025-160156	信頼性、利用可能性、およびスケーラビリティ（ＲＡＳ）の向上のためのメモリワードライン分離	2025年10月22日
特開 2025-155841	半導体デバイスのための高性能テストインタフェース	2025年10月14日
特開 2025-155829	人工知能を使用して電子機器を設計および検査するための方法および装置	2025年10月14日
特開 2025-148327	相変化メモリの多段階電流プロファイルの技術	2025年10月 7日
特開 2025-148242	ガラス層および埋め込みダイを有するインターポーザを備える集積回路パッケージ	2025年10月 7日
特開 2025-146667	ガラスにおいてコンフォーマルにめっきされた貫通ビア	2025年10月 3日
特表 2025-531980	量子コンピュータ用のハイブリッドデジタル／アナログプロセッサのための技術	2025年 9月29日
特開 2025-141806	マルチチップ複合デバイスにおける裏側ダイメタライゼーションへの上側電力送達のための３Ｄダイスタック再配線層	2025年 9月29日
特開 2025-133695	集積回路パッケージにおける低い応力を伴う高アスペクト比ビア	2025年 9月11日
特開 2025-131514	半導体製品歩留まりインジケータを生成する方法及び装置	2025年 9月 9日
特表 2025-528692	擬似モノリシックダイアーキテクチャ	2025年 9月 2日
特開 2025-126131	ガラスコアのための封止ライナを備えるマイクロ電子アセンブリ	2025年 8月28日
特開 2025-124587	スペーサ堆積前のカットゲートおよび関連欠陥試験構造を有する集積回路構造	2025年 8月26日

38 件中 1-15 件を表示

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2025-187987 2025-176029 2025-160156 2025-155841 2025-155829 2025-148327 2025-148242 2025-146667 2025-531980 2025-141806 2025-133695 2025-131514 2025-528692 2025-126131 2025-124587

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