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出願人名に「シノプシス， インコーポレイテッド」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5311509 | ダミーフィルセルのセットの使用によるダミーフィル実施の方法および装置 | シノプシス， インコーポレイテッド | 2013年10月 9日 |
| 特許 5311732 | マルチコアアーキテクチャにおけるスケジューリング | シノプシス， インコーポレイテッド 他 | 2013年10月 9日 |
| 特許 5306357 | マスク角部円形化効果のモデル化によるプロセスモデル精度の向上 | シノプシス， インコーポレイテッド | 2013年10月 2日 |
| 特許 5303449 | 集積回路の設計を最適化するための方法とシステム | シノプシス， インコーポレイテッド | 2013年10月 2日 |
| 特許 5290416 | ３ＤＩＣのためのフロアプランニングを容易にするための方法およびシステム | シノプシス， インコーポレイテッド | 2013年 9月18日 |
| 特許 5269070 | ＭＯＳＦＥＴアレイにおけるレイアウト依存の閾値電圧変動の迅速な推定方法 | シノプシス， インコーポレイテッド | 2013年 8月21日 |
| 特許 5261479 | ＭＯＳＦＥＴ集積回路におけるプロセスによって誘起される性能変動の補償方法 | シノプシス， インコーポレイテッド | 2013年 8月14日 |
| 特許 5227412 | 半導体基板における格子欠陥の抑制方法 | シノプシス， インコーポレイテッド | 2013年 7月 3日 |
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5311509 5311732 5306357 5303449 5290416 5269070 5261479 5227412
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