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インフィネオン テクノロジーズ アクチエンゲゼルシャフト

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  2017年 出願公開件数ランキング    第1623位 16件 上昇2016年:第2477位 8件)

  2017年 特許取得件数ランキング    第2791位 5件 上昇2016年:第9250位 1件)

(ランキング更新日:2025年2月17日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2017-225124 高速パルス変調システム 2017年12月21日
特開 2017-199371 ハイエンドマイクロコントローラ用のマルチダイにおけるスケーラブルなマルチコア型のシステムオンチップアーキテクチャ 2017年11月 2日
特開 2017-194466 複数の信号経路を用いたセンサ自己診断 2017年10月26日
特開 2017-183707 電子デバイス基板およびその製造方法 2017年10月 5日
特開 2017-151104 出力を提供するための可変の切換閾値の使用 2017年 8月31日
特開 2017-151105 磁気角度位置センサ 2017年 8月31日
特開 2017-153082 センサデバイスから電子制御ユニットへデータを伝送する方法、センサデバイスおよび電子制御ユニット 2017年 8月31日
特開 2017-142252 破損検出を備えた半導体チップ 2017年 8月17日
特開 2017-142876 記憶素子状態の検出 2017年 8月17日
特開 2017-112375 磁気抵抗構造を有する磁気センサデバイス、および、磁気抵抗構造を有する磁気センサデバイスのための方法 2017年 6月22日
特表 2017-506341 従属故障の検出 2017年 3月 2日
特開 2017-34254 ウェハ構造体の形成方法、半導体デバイスの形成方法およびウェハ構造体 2017年 2月 9日
特開 2017-34255 半導体デバイスの形成方法および半導体デバイス 2017年 2月 9日
特開 2017-22381 スイッチング可能ダイオード領域およびスイッチング不能ダイオード領域を備えた半導体デバイス 2017年 1月26日
特開 2017-22705 オーバーシュート補償回路 2017年 1月26日

16 件中 1-15 件を表示

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2017-225124 2017-199371 2017-194466 2017-183707 2017-151104 2017-151105 2017-153082 2017-142252 2017-142876 2017-112375 2017-506341 2017-34254 2017-34255 2017-22381 2017-22705

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