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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第991位 29件 (2018年:第1925位 11件)
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第1357位 13件 (2018年:第1989位 8件)
(ランキング更新日:2025年1月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2019-213452 | DC/DCコンバータ機能および逆極性保護機能のためのスイッチ | 2019年12月12日 | |
特開 2019-204952 | 半導体デバイスおよび半導体デバイスを形成するための方法 | 2019年11月28日 | |
特開 2019-201205 | ワイドバンドギャップ半導体ウェハを処理する方法、複数の薄膜ワイドバンドギャップ半導体ウェハを形成する方法およびワイドバンドギャップ半導体ウェハ | 2019年11月21日 | |
特開 2019-201408 | 発光ダイオードドライバ、発光ダイオードモジュールおよび相応のシステム | 2019年11月21日 | |
特開 2019-194583 | レーダ信号の処理 | 2019年11月 7日 | |
特開 2019-193267 | 通信機、通信機を含むシステムおよび信号 | 2019年10月31日 | |
特開 2019-186545 | ワイドバンドギャップ半導体デバイスおよびワイドバンドギャップ半導体デバイスを形成する方法 | 2019年10月24日 | |
特開 2019-186939 | グループ誤りを用いる誤り検出 | 2019年10月24日 | |
特開 2019-179029 | 第2の経路による冗長的な測定アプローチを使用するバッテリ診断システムおよび方法 | 2019年10月17日 | |
特開 2019-169709 | 炭化ケイ素デバイスおよび炭化ケイ素デバイスを製造するための方法 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-161650 | アナログ−デジタル変換器のための、温度に基づいた基準利得の補正 | 2019年 9月19日 | |
特開 2019-145197 | 読み出し増幅器回路、メモリ装置、抵抗変化型メモリセルの状態値を求めるための方法、およびメモリ装置を動作させるための方法 | 2019年 8月29日 | |
特開 2019-145791 | 炭化ケイ素から成る半導体ボディを備えた半導体装置 | 2019年 8月29日 | |
特開 2019-132838 | レーダ装置における雑音のスペクトル推定 | 2019年 8月 8日 | |
特開 2019-134165 | ウェハ合成物および半導体コンポーネントの製造方法 | 2019年 8月 8日 |
29 件中 1-15 件を表示
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2019-213452 2019-204952 2019-201205 2019-201408 2019-194583 2019-193267 2019-186545 2019-186939 2019-179029 2019-169709 2019-161650 2019-145197 2019-145791 2019-132838 2019-134165
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1月31日(金) -
1月31日(金) -
2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
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