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株式会社日本マイクロニクス
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第1068位 24件
（
2016年：第1932位 11件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第925位 23件
（
2016年：第686位 36件）
（ランキング更新日：2026年10月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日本マイクロニクスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6245876 | プローブカード | 2017年12月13日 | |
| 特許 6234797 | 配線基板ビア配置決定装置、方法及びプログラム | 2017年11月22日 | |
| 特許 6218731 | 充放電装置 | 2017年10月25日 | |
| 特許 6209376 | 電気的接続装置 | 2017年10月 4日 | |
| 特許 6209375 | 電気的接続装置 | 2017年10月 4日 | |
| 特許 6195709 | プローブカード、検査装置、及び検査方法 | 2017年 9月13日 | |
| 特許 6184941 | 二次電池 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6184301 | 検査装置 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6152095 | 二次電池 | 2017年 6月21日 | |
| 特許 6152094 | 二次電池 | 2017年 6月21日 | |
| 特許 6147417 | 電池 | 2017年 6月14日 | |
| 特許 6120479 | プローブカード及び検査装置 | 2017年 4月26日 | |
| 特許 6110117 | プローブ組立体及びプローブ基板 | 2017年 4月 5日 | |
| 特許 6110113 | 多層配線基板、及びその製造方法 | 2017年 4月 5日 | |
| 特許 6110086 | 接触検査装置 | 2017年 4月 5日 |
23 件中 1-15 件を表示
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6245876 6234797 6218731 6209376 6209375 6195709 6184941 6184301 6152095 6152094 6147417 6120479 6110117 6110113 6110086
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