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株式会社日本マイクロニクス
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（
2017年：第1131位 26件）
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（
2017年：第925位 23件）
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株式会社日本マイクロニクスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6411169 | 電気的接触子及び電気的接続装置 | 2018年10月24日 | |
| 特許 6404008 | 電気的接触子及び電気的接続装置 | 2018年10月10日 | |
| 特許 6393542 | 接触検査装置 | 2018年 9月19日 | |
| 特許 6374642 | プローブカード及び検査装置 | 2018年 8月15日 | |
| 特許 6367575 | 二次電池搭載回路チップ及びその製造方法 | 2018年 8月 1日 | |
| 特許 6357002 | プローブおよびプローブカード | 2018年 7月11日 | |
| 特許 6351963 | 二次電池及びその製造方法 | 2018年 7月 4日 | |
| 特許 6339002 | ステージ | 2018年 6月 6日 | |
| 特許 6317270 | 電気的接続装置およびポゴピン | 2018年 4月25日 | |
| 特許 6285292 | プローブカードおよび検査装置 | 2018年 2月28日 | |
| 特許 6286550 | 半導体モジュール、電気的接続体、及び検査装置 | 2018年 2月28日 | |
| 特許 6277034 | 積層型二次電池 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6273131 | 検査装置、及び検査方法 | 2018年 1月31日 | |
| 特許 6266462 | シート状電池試験装置及びシート状電池試験方法 | 2018年 1月24日 | |
| 特許 6259254 | 検査装置および検査方法 | 2018年 1月10日 |
16 件中 1-15 件を表示
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6411169 6404008 6393542 6374642 6367575 6357002 6351963 6339002 6317270 6285292 6286550 6277034 6273131 6266462 6259254
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