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エムイーエムシー・エレクトロニック・マテリアルズ・インコーポレイテッド
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 件
（
2011年： 件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 件
（2011年： 件）
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エムイーエムシー・エレクトロニック・マテリアルズ・インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2012-236768 | 高純度顆粒状シリコン及びその製造方法 | 2012年12月 6日 | |
| 特表 2012-522250 | 引っ張られた対象物を重量測定するためのシステムおよび方法 | 2012年 9月20日 | |
| 特開 2012-162453 | 粒状材料を製造するための方法およびシステムならびに粒状材料中の粉塵成分を減少させるためおよび測定するための方法およびシステム | 2012年 8月30日 | |
| 特表 2012-512132 | 流動層反応炉においてフルオロシリケートから四フッ化ケイ素を生成するプロセス及びシステム | 2012年 5月31日 | |
| 特表 2012-510144 | 高温環境における半導体ウエハのための支持体 | 2012年 4月26日 | |
| 特表 2012-510180 | シリコン−オン−インシュレータ構造体を処理する方法 | 2012年 4月26日 | |
| 特表 2012-509599 | 半導体ウェーハのエッジを剥離する方法及びシステム | 2012年 4月19日 | |
| 特表 2012-503312 | 熱処理工程の間半導体ウェーハを支持するウェーハホルダ | 2012年 2月 2日 | |
| 特表 2012-501545 | ３次元マルチゲートＭＯＳＦＥＴの製造に有用であるバルクシリコンウェハー製品 | 2012年 1月19日 | |
| 特表 2012-500775 | シリコン島の高さを連続的に測定するための方法および装置 | 2012年 1月12日 |
10 件中 1-10 件を表示
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2012-236768 2012-522250 2012-162453 2012-512132 2012-510144 2012-510180 2012-509599 2012-503312 2012-501545 2012-500775
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