ホーム > 特許ランキング > サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー > 2024年 > 出願公開一覧
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第1272位 18件
(2023年:第2343位 9件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第2210位 8件
(2023年:第2734位 6件)
(ランキング更新日:2025年2月7日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2024-546481 | 多次元分光計の較正 | 2024年12月24日 | |
特開 2024-173816 | 質量分析科学的機器のための支援システム | 2024年12月12日 | |
特表 2024-545699 | 二次元光学スペクトルにおけるピーク位置測定オフセット | 2024年12月10日 | |
特開 2024-170309 | イオン光学系用高電圧RF発生器 | 2024年12月 6日 | |
特開 2024-169391 | 多重反射質量分析計 | 2024年12月 5日 | |
特開 2024-169396 | 質量分析の方法、質量分析計、及びコンピュータソフトウェア | 2024年12月 5日 | |
特開 2024-169397 | 質量分析計のための電圧供給 | 2024年12月 5日 | |
特開 2024-169398 | 電荷低減方法及びイオン光学系 | 2024年12月 5日 | |
特開 2024-144368 | 飛行時間型質量分析システム | 2024年10月11日 | |
特開 2024-116105 | ハイブリッド質量分析計及びデータ取得方法 | 2024年 8月27日 | |
特開 2024-111839 | タンデム質量分析計及びタンデム質量分析の方法 | 2024年 8月19日 | |
特表 2024-523287 | 質量分析計を較正する方法 | 2024年 6月28日 | |
特開 2024-68163 | 質量分析計の信号の増強 | 2024年 5月17日 | |
特開 2024-62417 | イオンをトラップするための装置 | 2024年 5月 9日 | |
特開 2024-25755 | 質量スペクトルデータを取得するための方法及び質量分析システム | 2024年 2月26日 |
18 件中 1-15 件を表示
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2024-546481 2024-173816 2024-545699 2024-170309 2024-169391 2024-169396 2024-169397 2024-169398 2024-144368 2024-116105 2024-111839 2024-523287 2024-68163 2024-62417 2024-25755
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2月10日(月) -
2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
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