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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第23位 874件
(
2022年:第17位 1047件)
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第18位 1018件
(
2022年:第14位 1301件)
(ランキング更新日:2025年11月20日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7354702 | 表示制御方法、表示制御プログラムおよび情報処理装置 | 2023年10月 3日 | |
| 特許 7354712 | 情報処理装置、情報処理プログラムおよび情報処理方法 | 2023年10月 3日 | |
| 特許 7354721 | 情報処理プログラム、情報処理方法および情報処理装置 | 2023年10月 3日 | |
| 特許 7354736 | 情報処理装置、情報処理方法、情報処理プログラム | 2023年10月 3日 | |
| 特許 7354813 | 検出方法、通知方法、検出プログラムおよび通知プログラム | 2023年10月 3日 | |
| 特許 7354844 | 影響判定プログラム、装置、及び方法 | 2023年10月 3日 | |
| 特許 7354877 | 制御方法、制御プログラムおよび情報処理装置 | 2023年10月 3日 | |
| 特許 7354885 | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 | 2023年10月 3日 | |
| 特許 7354910 | 情報処理装置、情報処理方法および情報処理プログラム | 2023年10月 3日 | |
| 特許 7355247 | 署名制御方法、署名制御プログラム、および情報処理装置 | 2023年10月 3日 | |
| 特許 7352073 | 半導体装置、半導体装置の製造方法及び電子装置 | 2023年 9月28日 | |
| 特許 7352092 | 制御方法、情報処理装置及び制御プログラム | 2023年 9月28日 | |
| 特許 7352121 | 材料評価装置、材料評価方法及び材料評価プログラム | 2023年 9月28日 | |
| 特許 7351082 | 干渉源予測モデル生成方法、干渉源認識方法、装置及び端末装置 | 2023年 9月27日 | |
| 特許 7351129 | 情報処理装置および情報処理装置の制御プログラム | 2023年 9月27日 |
1022 件中 211-225 件を表示
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7354702 7354712 7354721 7354736 7354813 7354844 7354877 7354885 7354910 7355247 7352073 7352092 7352121 7351082 7351129
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