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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第5492位 3件
(2023年:第3738位 5件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第3695位 4件
(2023年:第2423位 7件)
(ランキング更新日:2025年2月7日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7441992 | 真直度測定用基準光発生器、真直度測定用基準提供方法及び真直度測定装置 | 2024年 3月 1日 | |
特許 7430768 | 両面露光装置 | 2024年 2月13日 | |
特許 7427352 | 露光装置 | 2024年 2月 5日 | |
特許 7412872 | 両面露光装置 | 2024年 1月15日 |
4 件中 1-4 件を表示
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7441992 7430768 7427352 7412872
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2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
2月7日(金) -
2月7日(金) -
2月10日(月) -
2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
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