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株式会社エスケーエレクトロニクス
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第2292位 9件
（
2019年：第5600位 3件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第2756位 5件
（
2019年：第2668位 5件）
（ランキング更新日：2025年5月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社エスケーエレクトロニクスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2020-194441 | ＲＦタグ | 2020年12月 3日 | |
| 特開 2020-174283 | 非接触情報担体 | 2020年10月22日 | |
| 特開 2020-160401 | 露光装置の検査方法及び露光装置 | 2020年10月 1日 | |
| 特開 2020-112419 | 空間光変調素子の検査装置及び検査方法 | 2020年 7月27日 | |
| 特開 2020-91330 | フォトマスクの製造方法 | 2020年 6月11日 | |
| 特開 2020-91331 | フォトマスクの描画装置 | 2020年 6月11日 | |
| 特開 2020-91332 | フォトマスクの製造方法 | 2020年 6月11日 | |
| 特開 2020-76899 | 露光装置の検査方法及び露光装置 | 2020年 5月21日 | |
| 特開 2020-67387 | 欠陥画素検出装置及び欠陥画素検出方法 | 2020年 4月30日 |
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2020-194441 2020-174283 2020-160401 2020-112419 2020-91330 2020-91331 2020-91332 2020-76899 2020-67387
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