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国立大学法人九州工業大学
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第782位 38件
（
2015年：第867位 33件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第612位 42件
（
2015年：第542位 44件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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国立大学法人九州工業大学の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5870408 | 可逆的な性質を示す温度応答性シートとそれを用いた細胞シートの製造方法 | 2016年 3月 1日 | |
| 特許 5866680 | 部分放電位置標定方法及び部分放電位置標定装置 | 2016年 2月17日 | |
| 特許 5856868 | 同一基板へのＣＭＯＳ及びトレンチダイオードの作製方法 | 2016年 2月10日 | |
| 特許 5854377 | ＭＯＳトランジスタ集積回路およびＭＯＳトランジスタ劣化度合模擬算出システム | 2016年 2月 9日 | |
| 特許 5854468 | 非接触放電評価方法及び装置 | 2016年 2月 9日 | |
| 特許 5846421 | 半導体回路の電流測定装置 | 2016年 1月20日 | |
| 特許 5846552 | 手話認識方法及びその装置 | 2016年 1月20日 | |
| 特許 5846575 | 電気二重層キャパシタの製造方法 | 2016年 1月20日 | |
| 特許 5846579 | ポリメチン色素前駆体、その前駆体の骨格を含むスクアリリウム色素、それを用いた色素増感太陽電池、光電変換素子 | 2016年 1月20日 | |
| 特許 5843358 | 半導体集積回路のテストパターン生成方法、プログラム、およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | 2016年 1月13日 |
55 件中 46-55 件を表示
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5870408 5866680 5856868 5854377 5854468 5846421 5846552 5846575 5846579 5843358
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