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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第1129位 24件
（
2011年：第2484位 8件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第2117位 10件
（2011年：第2389位 8件）
（ランキング更新日：2025年11月7日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5095897 | 荷電粒子ビームシステムにおいて銅の相互接続部をミリングする方法及び装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5090102 | 試料の薄片から画像を取得する方法 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5065516 | 薄い電子検出器における後方散乱の減少 | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5046648 | 構造部のミル処理断面の局部的変化を制御する方法 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5033873 | 真空チャンバを有する機器とともに使用されるスライダベアリング | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5005192 | サンプルを真空排気するための装置 | 2012年 8月22日 | |
| 特許 4906214 | 差分スパッタリング速度を減少する装置及び方法 | 2012年 3月28日 | |
| 特許 4865626 | 温度スイッチを備える粒子−光学装置 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4868723 | 粒子ビームの非点収差の支援による粒子光学装置における集束を実行する方法 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4863593 | 二次イオンの収量を高める方法及び装置 | 2012年 1月25日 |
10 件中 1-10 件を表示
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5095897 5090102 5065516 5046648 5033873 5005192 4906214 4865626 4868723 4863593
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