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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第1796位 14件 (2012年:第1129位 24件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第2127位 10件 (2012年:第2117位 10件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5373251 | 収差補正手段を備える粒子光学装置 | 2013年12月18日 | |
特許 5342728 | 走査電子顕微鏡の対物レンズを通した二次電子の捕集 | 2013年11月13日 | |
特許 5322363 | 微小二次加工処理用マルチカラムFIB | 2013年10月23日 | |
特許 5259035 | 成形され、低密度な集束イオンビーム | 2013年 8月 7日 | |
特許 5208449 | 試料キャリア及び試料ホルダ | 2013年 6月12日 | |
特許 5172154 | 集束イオンビームシステム用磁気増幅式誘導結合プラズマ源 | 2013年 3月27日 | 共同出願 |
特許 5173142 | 試料作製のための反復的周状切削 | 2013年 3月27日 | |
特許 5160499 | エネルギーフィルタが一体化された荷電粒子源 | 2013年 3月13日 | |
特許 5160500 | ハイブリッド位相板 | 2013年 3月13日 | |
特許 5138294 | 試験片から微小サンプルを分離する方法 | 2013年 2月 6日 |
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5373251 5342728 5322363 5259035 5208449 5172154 5173142 5160499 5160500 5138294
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10月21日(月) -
日常実務の疑問点に答える著作権 (周辺領域の商標・不正競争防止法を含む)に関するQ&A ~日常業務において、判断に迷う・知らずして間違いを犯しがちなケースを取り上げて、Q&A形式で平易に解説~
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