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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第1205位 22件
（
2013年：第1796位 14件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第2147位 10件
（
2013年：第2127位 10件）
（ランキング更新日：2025年11月5日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5647365 | 低エネルギーイオンミリング又は堆積 | 2014年12月24日 | |
| 特許 5634030 | 粒子光学装置用環境セル | 2014年12月 3日 | |
| 特許 5575339 | 電子顕微鏡用試料キャリア | 2014年 8月20日 | |
| 特許 5558088 | 粒子光学装置の歪曲を特定するための方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5547838 | 位相板を備えるＴＥＭでの試料の可視化方法 | 2014年 7月16日 | 共同出願 |
| 特許 5534646 | 粒子ビーム及び光を用いる顕微鏡で試料を観察する装置 | 2014年 7月 2日 | |
| 特許 5501545 | 集束イオンビーム系に関するレンズを通じた試料を中和する電子ビーム | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5478808 | 気体イオン源を備えた粒子光学装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5449286 | 二次イオンの収量を高める方法及び装置 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5404008 | 粒子光機器においてサンプルの走査型透過画像を取得する方法 | 2014年 1月29日 |
10 件中 1-10 件を表示
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5647365 5634030 5575339 5558088 5547838 5534646 5501545 5478808 5449286 5404008
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