特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ケーエルエー−テンカーコーポレイション

※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカーコーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2013年出願公開件数ランキング　　　第700位　49件（2012年：第1032位　27件）

　■　2013年特許取得件数ランキング　　　第850位　36件（2012年：第730位　43件）

（ランキング更新日：2024年10月10日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

ケーエルエー−テンカーコーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特許 5373282	自動材料ハンドリングシステムの材料加工の間における処理量低減装置	2013年12月18日
特許 5371916	検査システムにおける対話型閾値調整方法及びシステム	2013年12月18日
特許 5368507	自己較正機能を備える表面特性解析用システム	2013年12月18日
特許 5367126	小型超高開口率カタジオプトリック対物系	2013年12月11日
特許 5341354	周期的回折構造を含む層を有するサンプルを測定するためのシステム	2013年11月13日
特許 5337789	試料の照射装置	2013年11月 6日
特許 5318569	１つ又は複数の欠陥関連の機能を遂行するコンピュータ実行方法	2013年10月16日
特許 5302678	検出器と回路の飽和を避けることにより検査システムの熱破損を削減して、検出範囲を拡張するためのシステム、回路、方法	2013年10月 2日
特許 5303280	複数画像の同時高速取得を行う方法および装置	2013年10月 2日
特許 5284792	検査サンプル上で検出された欠陥分類のための方法とシステム	2013年 9月11日
特許 5289419	集積回路製造ツール基板上で温度を検出する装置	2013年 9月11日
特許 5280507	散乱計測を用いてオーバレイ誤差を検出する装置および方法	2013年 9月 4日
特許 5268253	対話型閾値調整	2013年 8月21日
特許 5255838	半導体検査用のファイバ増幅器ベースの光源	2013年 8月 7日
特許 5249015	広帯域のウェーハ検査用反射光学システム	2013年 7月31日

36 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

5373282 5371916 5368507 5367126 5341354 5337789 5318569 5302678 5303280 5284792 5289419 5280507 5268253 5255838 5249015

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカーコーポレイションの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数