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株式会社アドバンテスト
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第338位 127件
（
2012年：第193位 230件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第163位 256件
（
2012年：第199位 196件）
（ランキング更新日：2025年3月28日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5363437 | 試験装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5351029 | 電源安定化回路、電子デバイス、および、試験装置 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5351151 | 試験システム | 2013年11月27日 | |
| 特許 5351063 | コンタクト装置及び回路パッケージ | 2013年11月27日 | |
| 特許 5351316 | 試料保持具及びこれを用いた電子ビーム露光方法 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5351009 | 信号測定装置および試験装置 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5351269 | マスク検査装置及び画像生成方法 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5350939 | 測定装置および測定方法 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5351071 | テスト部ユニット、テストヘッドおよび電子部品試験装置 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5350784 | 電子ビーム露光装置及び電子ビーム露光方法 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5351164 | 半導体装置、プローブウエハおよび製造方法 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5351171 | 回路ボードアッセンブリ及び誤挿入検出装置 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5346712 | コネクタ及びコネクタを備える半導体試験装置 | 2013年11月20日 | 共同出願 |
| 特許 5346713 | コネクタ、及びコネクタを備える半導体試験装置 | 2013年11月20日 | 共同出願 |
| 特許 5337157 | 試験装置、及び試験方法 | 2013年11月 6日 |
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5363437 5351029 5351151 5351063 5351316 5351009 5351269 5350939 5351071 5350784 5351164 5351171 5346712 5346713 5337157
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